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A combined NDE-fatigue testing and three-dimensional image processing study of a SiC/SiC composite system

Abdul-Aziz, Ali ; Ghosn, Louis J ; Baaklini, George Y ; Rauser, Richard W ; Zima, John D

Proceedings of SPIE, 2004, Vol.5393, p.103-110

Bellingham WA: SPIE

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