Language:

Aplicações e extensão da técnica de Boundary-scan ao teste de módulos multichip

Roberto Cangellar Cossi Junior José Roberto de Almeida Amazonas 1957-

Available at EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central (FD-1921 )(GetIt)

Title:
Aplicações e extensão da técnica de Boundary-scan ao teste de módulos multichip
Author: Roberto Cangellar Cossi Junior
José Roberto de Almeida Amazonas 1957-
Subjects: ENGENHARIA ELÉTRICA
Notes: Dissertação (Mestrado)
Description: É apresentado o conceito de módulo multichip e suas características. As implicações dessas características em termos de complexidade para a realização de testes dos módulos são analisadas. É feita uma introdução ao padrão ieee 1149.1 para uma arquitetura de teste através de Boundary-scan. A partir deste padrão é desenvolvida uma aplicação voltada para o teste de módulos multichip. Esta aplicação envolve a implementação das instruções obrigatórias e de duas opcionais, incluindo a de auto-teste. Além disso são propostas duas novas instruções voltadas para aplicação em módulos multichip. É descrita a teoria utilizada para a implementação do auto-teste e como ela pode ser aplicada. Os circuitos projetados para a execução dos testes são descritos. Também é introduzido um circuito exemplo, utilizado para verificação dos resultados. Os resultados finais são apresentados em termos de funcionalidade e tamanho dos circuitos projetados expresso em número de gates equivalentes e área.
Creation Date: 1996
Format: 112p.
Language: Portuguese

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