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Nanoparticle Characterization by PCS: The Analysis of Bimodal Distributions
Rasteiro, M. G. ;
Lemos
,
C
.
C
. ; Vasquez, A.
Particulate science and technology, 2008-09, Vol.26 (5), p.413-437
[Periódico revisado por pares]
Taylor & Francis Group
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