Design of a fault tolerant solid state mass memory
Cardarilli, G.C. ; Leandri, A. ; Marinucci, P. ; Ottavi, M. ; Pontarelli, S. ; Re, M. ; Salsano, A.
IEEE transactions on reliability, 2003-12, Vol.52 (4), p.476-491
[Periódico revisado por pares]
New York: IEEE
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