Backscattered Scanning Electron Microscopy and Image Analysis of Sediments and Sedimentary Rocks

• Autor: David H. Pye, Kenneth Boggs, Sam Tovey, N. Keith Krinsley
• Jr, Sam Boggs; David H Krinsley; Kenneth Pye; N. Keith Tovey; Sam Boggs
• Notas: Includes bibliographical references (p. 173-190) and index
  
• Editor: Cambridge Cambridge University Press
  
• Data de criação/publicação: 1998
  
• Idioma: Inglês