Test results and perspectives of the cluster test program

Shimamoto, S. ; Ando, T. ; Hiyama, T. ; Tsuji, H. ; Takahashi, Y. ; Tada, E. ; Nishi, M. ; Yoshida, K. ; Okuno, K. ; Koizumi, K. ; Kato, T. ; Kensley, R. ; Oka, K. ; Shimada, M. ; Sanada, Y. ; Ibaraki, Y. ; Yasukochi, K.

IEEE transactions on magnetics, 1981-09, Vol.17 (5), p.2234-2237

IEEE

Texto completo disponível