Secondary scintillation yield of xenon with sub-percent levels of CO2 additive for rare-event detection

Henriques, C.A.O. ; Freitas, E.D.C. ; Azevedo, C.D.R. ; González-Díaz, D. ; Mano, R.D.P. ; Jorge, M.R. ; Fernandes, L.M.P. ; Monteiro, C.M.B. ; Gómez-Cadenas, J.J. ; Álvarez, V. ; Benlloch-Rodríguez, J.M. ; Borges, F.I.G.M. ; Botas, A. ; Cárcel, S. ; Carríon, J.V. ; Cebrían, S. ; Conde, C.A.N. ; Díaz, J. ; Diesburg, M. ; Esteve, R. ; Felkai, R. ; Ferrario, P. ; Ferreira, A.L. ; Goldschmidt, A. ; Gutiérrez, R.M. ; Hauptman, J. ; Hernandez, A.I. ; Hernando Morata, J.A. ; Herrero, V. ; Jones, B.J.P. ; Labarga, L. ; Laing, A. ; Lebrun, P. ; Liubarsky, I. ; López-March, N. ; Losada, M. ; Martín-Albo, J. ; Martínez-Lema, G. ; Martínez, A. ; McDonald, A.D. ; Monrabal, F. ; Mora, F.J. ; Moutinho, L.M. ; Muñoz Vidal, J. ; Musti, M. ; Nebot-Guinot, M. ; Novella, P. ; Nygren, D.R. ; Palmeiro, B. ; Para, A. ; Pérez, J. ; Querol, M. ; Renner, J. ; Ripoll, L. ; Rodríguez, J. ; Rogers, L. ; Santos, F.P. ; dos Santos, J.M.F. ; Simón, A. ; Sofka, C. ; Sorel, M. ; Stiegler, T. ; Toledo, J.F. ; Torrent, J. ; Tsamalaidze, Z. ; Veloso, J.F.C.A. ; Webb, R. ; White, J.T. ; Yahlali, N.

Physics letters. B, 2017-10, Vol.773 (C), p.663-671 [Periódico revisado por pares]

Netherlands: Elsevier B.V

Texto completo disponível