skip to main content
Idioma:

Deep-level transient spectroscopy (DLTS) analysis of defect levels in semiconductor alloys

Das, A ; Singh, V A ; Lang, D V

Semiconductor science and technology, 1988-12, Vol.3 (12), p.1177-1183 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

Texto completo disponível

Citações Citado por
Voltar para lista de resultados

  • Realização: ABCD-USP USP   Logos de Redes Sociais: Freepik

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.