Dependent binary relevance models for multi-label classification
Montañes, Elena ; Senge, Robin ; Barranquero, Jose ; Ramón Quevedo, José ; José del Coz, Juan ; Hüllermeier, Eyke
Pattern recognition, 2014-03, Vol.47 (3), p.1494-1508 [Periódico revisado por pares]Kidlington: Elsevier Ltd
Texto completo disponível
Página Inicial
RSS
Feed
Políticas
Fale Conosco-
Realização:
Logos de Redes Sociais: 