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Aplicacoes e extensao da tecnica de boundary-scan ao teste de modulos multichip

Roberto Cangellar Cossi Junior José Roberto de Almeida Amazonas 1957-

Localização: EPBC - Esc. Politécnica-Bib Central (FD-1921 ) e outros locais(Acessar)

Título:
Aplicacoes e extensao da tecnica de boundary-scan ao teste de modulos multichip
Autor: Roberto Cangellar Cossi Junior
José Roberto de Almeida Amazonas 1957-
Assuntos: ENGENHARIA ELÉTRICA
Notas: Dissertação (Mestrado)
Descrição: E apresentado o conceito de modulo multichip e suas caracteristicas. As implicacoes dessas caracteristicas em termos de complexidade para a realizacao de testes dos modulos sao analisadas. E feita uma introducao ao padrao ieee 1149.1 para uma arquitetura de teste atraves de boundary-scan. A partir deste padrao e desenvolvida uma aplicacao voltada para o teste de modulos multichip. Esta aplicacao envolve a implementacao das instrucoes obrigatorias e de duas opcionais, incluindo a de auto-teste. Alem disso sao propostas duas novas instrucoes voltadas para aplicacao em modulos multichip. E descrita a teoria utilizada para a implementacao do auto-teste e como ela pode ser aplicada. Os circuitos projetados para a execucao dos testes sao descritos. Tambem e introduzido um circuito exemplo, utilizado para verificacao dos resultados. Os resultados finais sao apresentados em termos de funcionalidade e tamanho dos circuitos projetados expresso em numero de gates equivalentes e area.
Data de criação/publicação: 1996
Formato: 112p.
Idioma: Português

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