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Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies

J. E. Albuquerque Débora Terezia Balogh; Roberto Mendonça Faria

Applied Physics A New York v. 86, n. 3, p. 395-401, Mar. 2007

New York 2007

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD013146 )(Acessar)

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Título:
Quantitative depth profile study of polyaniline films by photothermal spectroscopies
Autor: J. E. Albuquerque
Débora Terezia Balogh; Roberto Mendonça Faria
Assuntos: ÓPTICA; ESPECTROSCOPIA; FILMES FINOS
É parte de: Applied Physics A New York v. 86, n. 3, p. 395-401, Mar. 2007
Editor: New York
Data de criação/publicação: 2007
Formato: p. 395-401.
Idioma: Inglês

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