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Análise elementar sub-ppb de amostras líquidas pelos métodos PIXE e TXRF
Tanaka, Viviane Silva Poli
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física 2006-04-26
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Título:
Análise elementar sub-ppb de amostras líquidas pelos métodos PIXE e TXRF
Autor:
Tanaka, Viviane Silva Poli
Orientador:
Tabacniks, Manfredo Harri
Assuntos:
Aceleração De Partículas
;
Física Nuclear
;
Acceleration Of Particles
;
Nuclear Physics
Descrição:
O principal objetivo desse trabalho foi investigar a possibilidade da detecção sub-ppb (10-9 g/g) de elementos químicos presentes em amostras líquidas, analisadas por meio da espectrometria de raios-X, seja por STXRF (Synchrotron Total reflection X-ray Fluorescence), ou PIXE (Particle Induced X-ray Emission). Na ausência de padrões certificados, foram preparados em laboratório padrões líquidos multielementares com concentrações variando de 1 a 20 ppm, posteriormente micropipetados sobre substrato de Lucite, constituindo assim amostras adequadas para análises STXRF. Visando controlar a manipulação volumétrica, foi utilizado como padrão interno ítrio, em função do qual foi determinada a curva de sensibilidade relativa para o método. Após pré-concentração das amostras, estas foram micropipetadas sobre substratos de Lucite, Mylar e Kimfoil e as análises foram realizadas no Laboratório Nacional de Luz Síncontron LNLS, em Campinas, SP e no Laboratório de Análise de Materiais por feixes Iônicos LAMFI, no IFUSP. Os limites de detecção para ambos os métodos foram determinados e comparados. Como esperado, a STXRF apresenta limites de detecção uma ordem de grandeza inferior ao PIXE para elementos com 20
DOI:
10.11606/D.43.2006.tde-12062015-163509
Editor:
Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física
Data de criação/publicação:
2006-04-26
Formato:
Adobe PDF
Idioma:
Português
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