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Automatic diagnosis of single fault in interconnect testing of SRAM‐based FPGA

Nirmalraj, T. ; Radhakrishnan, S. ; Pandiyan, S.K.

IET Computers & Digital Techniques, 2021-09, Vol.15 (5), p.362-371 [Periódico revisado por pares]

John Wiley & Sons, Inc

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