Characterisation of irradiated thin silicon sensors for the CMS phase II pixel upgrade

Hrubec, J. ; Steininger, H. ; Clerbaux, B. ; Léonard, A. ; Vanlaer, P. ; Van Parijs, I. ; Bruno, G. ; Musich, M. ; Szilasi, N. ; Eerola, P. ; Contardo, D. ; Gallbit, G. ; Hosselet, J. ; Tromson, D. ; Autermann, C. ; Klein, K. ; Preuten, M. ; Schomakers, C. ; Kuensken, A. ; Stahl, A. ; Aldaya, M. ; Contreras-Campana, C. ; Garay Garcia, J. ; Hansen, K. ; Maser, H. ; Mittag, G. ; Pitzl, D. ; Garutti, E. ; Hoffmann, M. ; Klanner, R. ; Lapsien, T. ; Schleper, P. ; Schmidt, A. ; Sonneveld, J. ; Barth, Ch ; Colombo, F. ; Dierlamm, A. ; Freund, B. ; Heindl, S. ; Muller, Th ; Weber, M. ; Paspalaki, L. ; Siklér, F. ; De Palma, M. ; Franco, M. ; Cappello, G. ; Chiorboli, M. ; Pedrini, D. ; Traversi, G. ; Manoni, E. ; Arezzini, S. ; Boccali, T. ; Ciampa, A. ; Lomtadze, T. ; Tonelli, G. ; Pacher, L. ; Solano, A. ; Gill, K. ; Marconi, S. ; Mersi, S. ; Moll, M. ; Pavis, S. ; Petrucciani, G. ; Troska, J. ; Meinhard, M. ; Hreus, T. ; Taroni, S. ; Erdmann, W. ; Langenegger, U. ; Meier, B. ; Lu, R.-S. ; Moya, M. ; Morton, A. ; Bainbridge, R. ; Nelson, J. ; Ricci-Tam, F. ; Gerosa, R. ; Bartek, R. ; Jensen, F. ; Burkett, K. ; Gingu, C. ; Hrycyk, M. ; Lipton, R. ; Spiegel, L. ; Uplegger, L. ; Voirin, E. ; Evdokimov, A. ; Makauda, S. ; Stupak, J. ; Fehling, D. ; Acosta, J. G. ; Oliveros, S. ; Osherson, M. ; Malik, S. ; Godshalk, A. ; Chaves, J. ; Thom, J. ; Zientek, M. ; Betchart, B. ; Petrillo, G.

Eur.Phys.J.C, 2017-08, Vol.77 (8), p.1-13, Article 567 [Revista revisada por pares]

Berlin/Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg

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