Characterization of nanostructured material images using fractal descriptors
João B. Florindo Mariana S Sikora; Ernesto C Pereira; Odemir Martinez Bruno
Physica A Amsterdam : Elsevier v. 392, n. 7, p. 1694-1701, Apr. 2013Amsterdam 2013
Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD020597 )(Acessar)