Correlating pattern grime and quality attributes

Daniel Feitosa Apostolos Ampatzoglou; Paris Avgeriou; Elisa Yumi Nakagawa

IEEE Access Piscataway v. 6, p. 23065-23078, 2018

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação (PROD 2888073 )(Acessar)

Título:
Correlating pattern grime and quality attributes
Autor: Daniel Feitosa
Apostolos Ampatzoglou; Paris Avgeriou; Elisa Yumi Nakagawa
Assuntos: PROJETO DE SOFTWARE; SEGURANÇA DE SOFTWARE; PADRÕES DE SOFTWARE; Design Patterns; Pattern Grime; Quality Atributes; Industrial Case Study
É parte de: IEEE Access Piscataway v. 6, p. 23065-23078, 2018
Notas: Disponível em: . Acesso em: 08 jun. 2018
Editor: Piscataway
Data de criação/publicação: 2018
Formato: p. 23065-23078.
Idioma: Inglês

Links

Voltar para lista de resultados