Interstitial related defect of12B implanted into n- and p-type silicon

Frank, H. -P. ; Almeida, T. ; Diehl, E. ; Ergezinger, K. -H. ; Fischer, B. ; Ittermann, B. ; Mai, F. ; Seelinger, W. ; Weissenmayer, S. ; Welker, G. ; Ackermann, H. ; St ckmann, H. -J.

Hyperfine interactions, 1993, Vol.79 (1-4), p.655-658 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível