Nanostructured metallic thin films measurement of critical exponents

• Autor: L L Melo
• Reginaldo de Jesus Costa Farias; Maria Cecília Barbosa da Silveira Salvadori; Mauro Sérgio Dorsa Cattani; Nanotechnology Conference and Trade Show (2003 California)
• Assuntos: NANOTECNOLOGIA; FILMES FINOS
• É parte de: Proceedings Cambridge : NSTI, 2003
• Editor: Cambridge NSTI
  
• Data de criação/publicação: 2003
  
• Formato: p. 223-226.
  
• Idioma: Inglês