Study of silicon photomultiplier performance in external electric fields

Tolba, T. ; Lv, P. ; Wen, L.J. ; Odian, A. ; Vachon, F. ; Arnquist, I.J. ; Belov, V. ; Bhatta, T. ; Bourque, F. ; Brodsky, J. P. ; Brunner, T. ; Cen, W.R. ; Chambers, C. ; Charlebois, S.A. ; Cleveland, B. ; Coon, M. ; Craycraft, A. ; Cree, W. ; Dalmasson, J. ; Daniels, T. ; Daughhetee, J. ; Mesrobian-Kabakian, A. Der ; DeVoe, R. ; Ding, Y.Y. ; Dolinski, M.J. ; Dragone, A. ; Echevers, J. ; Fairbank, D. ; Fairbank, W. ; Farine, J. ; Feyzbakhsh, S. ; Fierlinger, P. ; Fontaine, R. ; Fudenberg, D. ; Giacomini, G. ; Gornea, R. ; Gratta, G. ; Hansen, E.V. ; Harris, D. ; Hoppe, E. W. ; Hößl, J. ; House, A. ; Hufschmidt, P. ; Ito, Y. ; Iverson, A. ; Jamil, A. ; Jessiman, C. ; Karelin, A. ; Kaufman, L.J. ; Kravitz, S. ; Krücken, R. ; Kuchenkov, A. ; Kumar, K.S. ; Lan, Y. ; Li, S. ; Li, Z. ; Licciardi, C. ; Lin, Y.H. ; MacLellan, R. ; Michel, T. ; Moe, M. ; Mong, B. ; Murray, K. ; Ning, Z. ; Njoya, O. ; Nolet, F. ; Nusair, O. ; Odgers, K. ; Oriunno, M. ; Orrell, J.L. ; Ostrovskiy, I. ; Parent, S. ; Piepke, A. ; Pocar, A. ; Pratte, J.-F. ; Qiu, D. ; Radeka, V. ; Raguzin, E. ; Rescia, S. ; Robinson, A. ; Roy, N. ; Saldanha, R. ; Sangiorgio, S. ; Sinclair, D. ; VIII, K. Skarpaas ; Soma, A.K. ; St-Hilaire, G. ; Stekhanov, V. ; Stiegler, T. ; Tarka, M. ; Todd, J. ; Tsang, R. ; Tsang, T. ; Veenstra, B. ; Visser, G. ; Wang, Q. ; Watkins, J. ; Wu, S.X. ; Yen, Y.-R. ; Zhou, Y.

Journal of instrumentation, 2018-09, Vol.13 (9), p.T09006-T09006 [Periódico revisado por pares]

Bristol: IOP Publishing

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