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Characterization of semiconductor materials principles and methods
Gary E. McGuire
New Jersey Noyes c1989
Localização:
IFSC - Inst. Física de São Carlos
(530.418 M4795C v.1 )
(Acessar)
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Título:
Characterization of semiconductor materials principles and methods
Autor:
Gary E. McGuire
Assuntos:
SEMICONDUTORES
Títulos relacionados:
Série:Materials Science and Process Technology Series
Editor:
New Jersey Noyes
Data de criação/publicação:
c1989
Formato:
v.1.
Idioma:
Inglês
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