Consenso de terminología en microscopia confocal de reflectancia en español mediante método Delphi
A. Abarzua-Araya ; J. Bañuls ; H. Cabo ; C. Carrera ; R. Gamo ; S. González ; N. Jaimes ; C. Navarrete-Dechent ; J. Pérez Anker ; R. Roldán-Marín ; S. Segura ; O. Yélamos ; S. Puig ; J. Malvehy
Actas dermo-sifiliográficas, 2024-03, Vol.115 (3), p.258-264 [Periódico revisado por pares]Elsevier
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