Idioma:

Refractive indexes and spectroscopic properties to design Er3+-doped SiO2–Ta2O5 films as multifunctional planar waveguide platforms for optical sensors and amplifiers

Jefferson L. Ferrari Karmel de Oliveira Lima; Rogéria Rocha Gonçalves

ACS Omega Washington v. 6, n. 13, p. 8784-8796, 2021

Localização: FFCLRP - Fac. Fil. Ciên. Let. de R. Preto (pcd 3042765 Acervo Digital )(Acessar)

Título:
Refractive indexes and spectroscopic properties to design Er3+-doped SiO2–Ta2O5 films as multifunctional planar waveguide platforms for optical sensors and amplifiers
Autor: Jefferson L. Ferrari
Karmel de Oliveira Lima; Rogéria Rocha Gonçalves
Assuntos: ESPECTROSCOPIA; SENSORES ÓPTICOS; AMPLIFICADORES ÓPTICOS
É parte de: ACS Omega Washington v. 6, n. 13, p. 8784-8796, 2021
Notas: Disponível em: https://doi.org/10.1021/acsomega.0c05351. Acesso em: 21 set. 2021
Editor: Washington
Data de criação/publicação: 2021
Formato: p. 8784-8796.
Idioma: Inglês

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