Idioma:

Determinacao do perfil de tensao em filmes finos por microelipsometria

D A Barros Filho M A Aegerter; Congresso Brasileiro de Ceramica (37. 1993 Curitiba)

Anais São Paulo : Associacao Brasileira de Ceramica, 1993

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD002618 ) e outros locais(Acessar)

Título:
Determinacao do perfil de tensao em filmes finos por microelipsometria
Autor: D A Barros Filho
M A Aegerter; Congresso Brasileiro de Ceramica (37. 1993 Curitiba)
Assuntos: MATÉRIA CONDENSADA; SUPERFÍCIE FÍSICA; MATÉRIA CONDENSADA
É parte de: Anais São Paulo : Associacao Brasileira de Ceramica, 1993
Editor: São Paulo Associacao Brasileira de Ceramica
Data de criação/publicação: 1993
Formato: p.860-7.
Idioma: Português

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