Influence of the assisting-ion-beam parameters on the laser-damage threshold of SiO2 films
ALVISI, M ; DE NUNZIO, G ; PERRONE, M. R ; RIZZO, A ; SCAGLIONE, S ; VASANELLI, L
Thin solid films, 1999-01, Vol.338 (1-2), p.269-275 [Periódico revisado por pares]Lausanne: Elsevier Science
Texto completo disponível
Página Inicial
RSS
Feed
Políticas
Fale Conosco-
Realização:
Logos de Redes Sociais: 