Resultados da aplicação de diferentes técnicas de geração de dados de teste sensíveis a defeitos

Sílvia Regina Vergílio José Carlos Maldonado; Mário Jino; Conferencia Latinoamericana de Informatica (27. 2001 Merida)

2001

Localização: ICMC - Inst. Ciên. Mat. Computação    (PROD-1206457 ) e outros locais(Acessar)