Measurement of radioactive contamination in the high-resistivity silicon CCDs of the DAMIC experiment

Aguilar-Arevalo, A. ; Amidei, D. ; Bertou, X. ; Bole, D. ; Butner, M. ; Cancelo, G. ; Vázquez, A. Castañeda ; Chavarria, A.E. ; Neto, J.R.T. de Mello ; Dixon, S. ; D'Olivo, J.C. ; Estrada, J. ; Moroni, G. Fernandez ; Torres, K.P. Hernández ; Izraelevitch, F. ; Kavner, A. ; Kilminster, B. ; Lawson, I. ; Liao, J. ; López, M. ; Molina, J. ; Moreno-Granados, G. ; Pena, J. ; Privitera, P. ; Sarkis, Y. ; Scarpine, V. ; Schwarz, T. ; Haro, M. Sofo ; Tiffenberg, J. ; Machado, D. Torres ; Trillaud, F. ; You, X. ; Zhou, J.

Journal of instrumentation, 2015-08, Vol.10 (8), p.P08014-P08014 [Periódico revisado por pares]

Texto completo disponível