Analytical electron microscopy of Si1-xGex/Si heterostructures and local isolation structures
ARMIGLIATO, A ; BALBONI, R ; CORTICELLI, F ; FRABBONI, S ; MALVEZZI, F ; VANHELLEMONT, J
Materials science and technology, 1995, Vol.11 (4), p.400-406 [Periódico revisado por pares]Leeds: Maney
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