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Estimation of the thickness and the optical parameters of several stacked thin films using optimization

Ricardo Luiz de Andrade Abrantes Ernesto Julian Goldberg Birgin; Ivan Chambouleyron; José Mário Martínez; Sergio D Ventura

Applied Optics Washington v. 47, n. 28, p. 5208-5220, 2008

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IME-Inst. Mat. e Estatística	PROD-1722632		Item disponível	1722632-10	RECURSO ELETRÔNICO	Select Request Option: Clique aqui para se identificar
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