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Scanning Electron Microscopy Applications to Materials and Device Science
P.R. THORNTON
London Chapman and Hall c1968
Localização:
EEL - Engenharia de Materiais
(537.533.35 T514s )
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Título:
Scanning Electron Microscopy Applications to Materials and Device Science
Autor:
P.R. THORNTON
Assuntos:
MICROSCOPIA ELETRÔNICA
Editor:
London Chapman and Hall
Data de criação/publicação:
c1968
Formato:
368 p. ilus 21,,5 cm.
Idioma:
Inglês
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