Evaluation of a scattering correction method for high energy tomography

Tisseur, David ; Bhatia, Navnina ; Estre, Nicolas ; Berge, Léonie ; Eck, Daniel ; Payan, Emmanuel Schyns, M. ; Vermeeren, L. ; Lyoussi, A. ; Reynard-Carette, C. ; Carette, M. ; Giot, M. ; Le Dû, P.

EPJ Web of Conferences, 2018, Vol.170, p.6006 [Periódico revisado por pares]

Les Ulis: EDP Sciences

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