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Quantum-mechanical effects in trigate SOI MOSFETs

Colinge, J.-P. ; Alderman, J.C. ; Weize Xiong ; Cleavelin, C.R.

IEEE transactions on electron devices, 2006-05, Vol.53 (5), p.1131-1136 [Periódico revisado por pares]

New York, NY: IEEE

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