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Surface energy characterization of light-emitting diodes by Atomic Force Microscopy (AFM) contact angle and surface energy determination

A. J. F. Carvalho Marcelo de Assumpção Pereira da Silva; Roberto Mendonça Faria; Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat (3. 2004 Foz do Iguaçu); Brazilian MRS Meeting (2004 Foz do Iguaçu)

Programa e Livro de Resumos São Carlos : SBPMat, 2004

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Título:
Surface energy characterization of light-emitting diodes by Atomic Force Microscopy (AFM) contact angle and surface energy determination
Autor: A. J. F. Carvalho
Marcelo de Assumpção Pereira da Silva; Roberto Mendonça Faria; Encontro da Sociedade Brasileira de Pesquisa em Materiais - SBPMat (3. 2004 Foz do Iguaçu); Brazilian MRS Meeting (2004 Foz do Iguaçu)
Materias: POLÍMEROS (MATERIAIS); FILMES FINOS
Es parte de: Programa e Livro de Resumos São Carlos : SBPMat, 2004
Notas: Disponível em: http://www.sbpmat.org.br/3encontro/simposio_%20c.pdf
Editor: São Carlos SBPMat
Fecha de creación: 2004
Formato: p. 169, res. C-PO71.
Idioma: Inglés

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