Método da Interferometria Eletrônica por padrão de Speckle como instrumento de análise de deformações na Implantologia

S. R Sizo M. V. Y Kanashiro; E. K Takeshita; Dalva Cruz Laganá; Tomie Nakakuki de Campos; D Soga; M Muramatsu; Matsuyoshi Mori; Reunião Anual da SBPqO (28. 2011 São Paulo)

Brazilian Oral Research São Paulo v. 25, supl. 1, p. 224, res. PNa238, Sept., 2011

São Paulo 2011

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