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1/f noise of short-channel indium tin oxide transistors under stress

Gu, Chengru ; Hu, Qianlan ; Li, Qijun ; Zhu, Shenwu ; Kang, Jiyang ; Wu, Yanqing

Applied physics letters, 2023-06, Vol.122 (25) [Periódico revisado por pares]

Melville: American Institute of Physics

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