Simple method for the determination of the interface trap density at 77k in fully depleted acumulation mode soi mosfets

João Antonio Martino 1959- Eddy Simoen; Ulf Magnusson; Antônio Luís Pacheco Rotondaro; Cor Claeys

v.36, n.6 , p.827-32, jun. 1993 Solid State Electronics

1993

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