Idioma:

Film thickness measurement system using FPGA technology

Adriana Bonilla Riaño Antonio Carlos Bannwart; Hugo Fernando Velasco Peña; Oscar Mauricio Hernandez Rodriguez; Symposium on Signal Processing, Images and Computer Vision - STSIVA (2015 : Bogotá, Colombia)

Proceedings Piscataway, NJ, USA : IEEE, 2015

Localização: EESC - Esc. Engenharia de São Carlos (PROD-026083 )(Acessar)

Título:
Film thickness measurement system using FPGA technology
Autor: Adriana Bonilla Riaño
Antonio Carlos Bannwart; Hugo Fernando Velasco Peña; Oscar Mauricio Hernandez Rodriguez; Symposium on Signal Processing, Images and Computer Vision - STSIVA (2015 : Bogotá, Colombia)
Assuntos: FILMES FINOS; FLUXO DOS LÍQUIDOS; ESCOAMENTO; ENGENHARIA MECÂNICA
É parte de: Proceedings Piscataway, NJ, USA : IEEE, 2015
Notas: Disponível em: http://dx.doi.org/10.1109/STSIVA.2015.7330426 Acesso em: 06 jul. 2023.
Editor: Piscataway, NJ, USA IEEE
Data de criação/publicação: 2015
Formato: p. 1-7.
Idioma: Inglês

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