Measurement of $C\!P$ violation in $B^{0}\rightarrow K_{S}^{0}\pi^{0}$ decays at Belle II

Aloisio, A. ; Anh Ky, N. ; Aushev, V. ; Babu, V. ; Bambade, P. ; Barrett, M. ; Bertacchi, V. ; Bettarini, S. ; Casarosa, G. ; Cecchi, C. ; Choudhury, S. ; Corona, L. ; De La Cruz-Burelo, E. ; Di Capua, F. ; Doležal, Z. ; Domínguez Jiménez, I. ; Dong, T. V. ; Dujany, G. ; Feichtinger, P. ; Fillinger, T. ; Forti, F. ; Garmash, A. ; Gaudino, G. ; Ghosh, D. ; Giakoustidis, G. ; Glazov, A. ; Godang, R. ; Hayasaka, K. ; Hedges, M. T. ; Hill, E. C. ; Hoek, M. ; Iijima, T. ; Ishikawa, A. ; Iwasaki, M. ; Jang, E.-J. ; Korpar, S. ; Kumar, J. ; Kumara, K. ; Kunigo, T. ; Kuzmin, A. ; Lai, Y.-T. ; Leitl, P. ; Levit, D. ; Liu, Z. Q. ; Lueck, T. ; Ma, Y. ; Maiti, R. ; Mantovano, M. ; Masuda, M. ; Merola, M. ; Milesi, M. ; Mirra, M. ; Miyabayashi, K. ; Mizuk, R. ; Moneta, S. ; Narimani Charan, A. ; Naruki, M. ; Nayak, L. ; Nayak, M. ; Ono, H. ; Onuki, Y. ; Pardi, S. ; Park, H. ; Passeri, A. ; Pham, F. ; Piccolo, M. ; Podesta-Lerma, P. L. M. ; Podobnik, T. ; Prencipe, E. ; Prim, M. T. ; Reif, M. ; Reiter, S. ; Rout, N. ; Sahoo, D. ; Santelj, L. ; Schmitt, C. ; Schwanda, C. ; Senyo, K. ; Shi, X. D. ; Simon, F. ; Skorupa, J. ; Sokolov, A. ; Takahashi, M. ; Thaller, A. ; Uglov, T. ; Uno, K. ; Ushiroda, Y. ; Vahsen, S. E. ; Varvell, K. E. ; Vismaya, V. S. ; Wallner, S. ; Wang, E. ; Wang, Z. ; Watanuki, S. ; Won, E. ; Yang, S. B. ; Zhilich, V. ; Zhou, Q. D. ; Zhukova, V. I. ; Belle-II Collaboration

Deutsches Elektronen-Synchrotron, DESY, Hamburg 2023

Sem texto completo