Photoreflectance measurements on 'SI' 'DELTA'-doped 'GA''AS' samples grown by molecular-beam epitaxy

A A Bernussi F Iikawa; P Motisuke; Pierre Basmaji; Máximo Siu Li; Oscar Hipólito

New York v.67, n.9 , p.4149-51, mai. 1990 Journal of Applied Physics

New York 1990

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos    (PROD000861 )(Acessar)