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A generalised FK model for the 558 line defect in graphene
Yao, Yin ; Yang, Jingjing ; He, Yafeng ; Bai, Jianhui
Philosophical magazine letters, 2024-12, Vol.104 (1)
[Periódico revisado por pares]
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Título:
A generalised FK model for the 558 line defect in graphene
Autor:
Yao, Yin
;
Yang, Jingjing
;
He, Yafeng
;
Bai, Jianhui
É parte de:
Philosophical magazine letters, 2024-12, Vol.104 (1)
Idioma:
Inglês
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