X-ray imaging test of a μ-strip silicon detector with a transputer DAQ
BENCIVELLI, W ; BERTOLUCCI, E ; ROSSO, V ; RUSSO, P ; RUSSO, S ; SCARLATELLA, A ; STEFANINI, A ; BOTTIGLI, U ; CONTI, M ; DEL GUERRA, A ; FANTACCI, M. E ; GAMBACCINI, M ; LAROBINA, M ; MARZIANI, M ; RANDACCIO, P
IEEE transactions on nuclear science, 1994-08, Vol.41 (4), p.1522-1525 [Periódico revisado por pares]New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers
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