Idioma:

Characterization of nanostructured material images using fractal descriptors

João B. Florindo Mariana S Sikora; Ernesto C Pereira; Odemir Martinez Bruno

Physica A Amsterdam : Elsevier v. 392, n. 7, p. 1694-1701, Apr. 2013

Localização: IFSC - Inst. Física de São Carlos (PROD020597 )(Acessar)

Título:
Characterization of nanostructured material images using fractal descriptors
Autor: João B. Florindo
Mariana S Sikora; Ernesto C Pereira; Odemir Martinez Bruno
Assuntos: FRACTAIS; RECONHECIMENTO DE PADRÕES; MATERIAIS NANOESTRUTURADOS
É parte de: Physica A Amsterdam : Elsevier v. 392, n. 7, p. 1694-1701, Apr. 2013
Notas: Disponível em: <http://dx.doi.org/10.1016/j.physa.2012.11.020>. Acesso em: 21 fev. 2013
Editor: Amsterdam
Data de criação/publicação: 2013
Formato: p. 1694-1701.
Idioma: Inglês

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