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Projeto e construção de um sistema de vácuo dedicado a técnica SIMS

Franceschini, Marco José

Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física de São Carlos 1997-08-28

Acesso online. A biblioteca também possui exemplares impressos.

  • Título:
    Projeto e construção de um sistema de vácuo dedicado a técnica SIMS
  • Autor: Franceschini, Marco José
  • Orientador: Marega Junior, Euclydes
  • Assuntos: Espectroscopia De Massa; Instrumentação Científica; Instrumentation; Mass Spectrometry
  • Notas: Dissertação (Mestrado)
  • Descrição: O trabalho realizado teve como objetivo principal o projeto, a construção e os testes de um sistema de vácuo dedicado a técnica de Espectrometria de Massa do íon Secundário (SIMS), a ser utilizado na caracterização estrutural de heteroestruturas semicondutoras. O sistema (câmaras e conexões) foi totalmente desenvolvido nas dependências do IFSC-USP, sendo acoplado a este um conjunto de elementos comerciais, tais como: visores de Ultra-Alto Vácuo (UHV), medidores, canhão de íons, válvulas, bombas (mecânica, turbo e iônica) e espectrômetro de massa. Testes realizados mostraram que o sistema de vácuo principal (o sistema todo é composto por duas câmaras de vácuo: uma principal e uma de introdução) pode atingir pressões da ordem de 10-10 Torr, necessária para a implementação de técnicas de análise de superfície. Além disto, o sistema mostrou-se versátil para a troca de amostras (uso continuo) e de fácil operação. Além de instrumentação para UHV, os resultados obtidos são promissores no sentido de proporcionar uma economia nos custos para futuras aquisições de sistemas para analise de superfícies
  • DOI: 10.11606/D.76.1997.tde-01042014-160711
  • Editor: Biblioteca Digital de Teses e Dissertações da USP; Universidade de São Paulo; Instituto de Física de São Carlos
  • Data de criação/publicação: 1997-08-28
  • Formato: Adobe PDF
  • Idioma: Português
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