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Nanoscale magnetic field mapping with a single spin scanning probe magnetometer

Rondin, L. ; Tetienne, J.-P. ; Spinicelli, P. ; Dal Savio, C. ; Karrai, K. ; Dantelle, G. ; Thiaville, A. ; Rohart, S. ; Roch, J.-F. ; Jacques, V.

Applied physics letters, 2012-04, Vol.100 (15), p.153118-153118-4 [Revista revisada por pares]

United States: American Institute of Physics

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