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Idioma:

Semiconductor material and device characterization

Dieter K. Schroder

New York Wiley c1990

Localização: EPELM - Esc. Politécnica-Bib Eng Elet., Mec. e Naval (621.3.032 Sch75s ) e outros locais(Acessar)

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Título:
Semiconductor material and device characterization
Autor: Dieter K. Schroder
Assuntos: Semiconductors; Semiconductors -- Testing; SEMICONDUTORES
Notas: Includes bibliographical references and index
Editor: New York Wiley
Data de criação/publicação: c1990
Formato: xv, 599 p. ill. 25 cm.
Idioma: Inglês

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