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Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos
Manuel Alfredo Espinoza Sanchez Márcia Carvalho de Abreu Fantini
2000
Disponible en
IF - Instituto de Física
(548.83 E77m M Ex.2 )
(Obténgalo)
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Título:
Medidas "in situ" de variações estruturais em materiais eletrocrômicos
Autor:
Manuel Alfredo Espinoza Sanchez
Márcia Carvalho de Abreu Fantini
Materias:
CRISTALOGRAFIA
;
DIFRAÇÃO POR RAIOS X
Notas:
Dissertação (Mestrado)
Descripción:
O objetivo deste trabalho foi desenvolver uma metodologia para o estudo de filmes finos por difração de raios X "in situ" durante o processo eletroquímico de intercalação, mas especificamente, nos concentramos no estudo de filmes finos eletrocrômicos. Estudamos a influência dos diferentes parâmetros experimentais como: o tipo de detector (cintilação, DC e image plate, IP), o efeito da potência e da largura do feixe de raios X, a absorção dos componentes da cela (Kapton eeletrólito), a distância detector image plate-amostra e tempo de coleta de dados. Foram analisados filmes eletrocrômicos de Ni'O IND. X''H IND. Y', crescidos por rf-sputtering reativo. A absorção devida ao eletrólito é a causa principal dadimuição da intensidade dos raios X difratados em medidas "in situ" por reflexão. Para se obter resultados com boa intensidade e resolução angular é imprescindível a redução da espessura do eletrólito para valores menores que 'DA ORDEM DE'50'nu'm. A absorção da janela de Kapton (15 'nu'm) da cela eletroquímica representa uma perda entre 10% e 15% na intensidade dos raios X. Na avaliação dos detectores, as medidas referentes ao efeito da potência dos raios X mostrou que esta deve ser aumentada. O aumento da largura da fenda de divergência horizontal melhora a relação sinal/ruído. Medidas diminuindo a distância amostra-detector IP mostraram um aumento de intensidade, mas uma perda na relação sinal/ruído. A presença de um caminho de vácuo não promove
melhora nos resultados obtidos com detector IP. A variação do tempo de medida mostrou que para tempos maiores que 8 minutos se obtém uma boa relação sinal/ruído para os dois tipos de detectores, medidas "ex situ" e "in situ" obtidas com ambos os detectores de rede da cela cúbica do NiO
Fecha de creación:
2000
Formato:
64 p.
Idioma:
Portugués
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