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Scanning electron microscopy, x-ray microanalysis and analytical electron microscopy a laboratory workbook. Charles E. Lyman, Dale E. Newbury, Joseph I. Goldstein, David B. Williams, Alton D. Romig, Jr., John T. Armstron, Patrick Echlin, Charles E. Fiori, David C. Joy, Eric Lifshin, Klaus-Ruediger Peters Plenum Press, New York (1992) ISBN: 0-306-435918; $32.50

Cleaver, C. Gordon

Scanning, 1993, Vol.15 (1), p.51-51 [Periódico revisado por pares]

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Título:
Scanning electron microscopy, x-ray microanalysis and analytical electron microscopy a laboratory workbook. Charles E. Lyman, Dale E. Newbury, Joseph I. Goldstein, David B. Williams, Alton D. Romig, Jr., John T. Armstron, Patrick Echlin, Charles E. Fiori, David C. Joy, Eric Lifshin, Klaus-Ruediger Peters Plenum Press, New York (1992) ISBN: 0-306-435918; $32.50
Autor: Cleaver, C. Gordon
É parte de: Scanning, 1993, Vol.15 (1), p.51-51
Notas: ark:/67375/WNG-BDV5K0GB-R
istex:899298A5F8B4193570489291BECEBC66A4975371
ArticleID:SCA4950150110
Editor: New Jersey: Wiley Periodicals, Inc
Idioma: Inglês

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