Charge deposition analysis of heavy-ion-induced single-event burnout in low-voltage power VDMOSFET

S. G. Alberton Vitor Ângelo Paulino de Aguiar; Nilberto H Medina; Nemitala Added; E L A Macchione; R Menegasso; G. J Cesário; Hellen Cristine Santos; V B Scarduelli; J. A Alcántara-Núñez; M. A Guazzelli; R. B. B Santos; D Flechas

Microelectronics Reliability Amsterdam: Elsevier, 2022 v. 137, 21 de setembro de 2022, número do artigo: 114784, online

Amsterdam 2022

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