Idioma:

X-ray microscopy and X-ray microanalysis; proceedings. Edited by A. Engström, V. Cosslett [and] H. Pattee

International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis (2d. 1959 Stockholm) V. E Cosslett (Vernon Ellis); Arne Engström; H. H Pattee 1926-

Localização: EESC - Esc. Engenharia de São Carlos (548.83063 I61p.2 ) e outros locais(Acessar)

Título:
X-ray microscopy and X-ray microanalysis; proceedings. Edited by A. Engström, V. Cosslett [and] H. Pattee
Autor: International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis (2d. 1959 Stockholm)
V. E Cosslett (Vernon Ellis); Arne Engström; H. H Pattee 1926-
Assuntos: Microradiography -- congresses; Microscopy -- congresses; Optics -- congresses; CRISTALOGRAFIA DE RAIOS X (CONGRESSOS)
Notas: 1st meeting called Symposium on X-ray Microscopy and Microradiography; 3d meeting called International Symposium on X-ray Optics and X-ray Microanalysis;Text in English, French, or German
Notas Locais: [Ed] v cosslet, h pattee
Editor: Amsterdam, New York Elsevier
Data de criação/publicação: 1960
Formato: x, 542 p illus.
Idioma: Inglês

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