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The Effect of Deep JFET and P-Well Implant of 1.2kV 4H-SiC MOSFETs

Kim, Dongyoung ; Yun, Nick ; Morgan, Adam J. ; Sung, Woongje

IEEE journal of the Electron Devices Society, 2022-01, Vol.10 [Periódico revisado por pares]

United States: IEEE

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