skip to main content

Effects of Damage Caused by Non-ionizing Energy Loss in Si Mini-Pad Sensors for the PHENIX MPC-EX

채종서 ; 미트라게게르치 ; 한인식 ; S. Y. Han ; I. W. Jeong ; 주관식 ; 김은주 ; S. G. Kim ; 김용균 ; E. Kistenev ; 권영일 ; J. G. Lajoie ; Z. Li ; J. H. Lee ; K. S. Lim ; S. H. Lim ; J. M. Park ; K. S. Park ; S. Y. Park ; H. S. Song ; D. G. Sue ; A. Sukhanov

Journal of the Korean Physical Society, 2014-12, p.1809-1816 [Periódico revisado por pares]

한국물리학회

Texto completo disponível

Citações Citado por

Buscando em bases de dados remotas. Favor aguardar.